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如何正確計算并最大限度減小IGBT的死區時(shí)間?

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深圳逸盛通科技有限公司

時(shí)間 : 2018-12-22 18:22 瀏覽量 : 350

IGBT


IGBT是一種非常重要的電力電子器件。它不僅具有功率MOSFET的低驅動(dòng)功率和高開(kāi)關(guān)頻率的優(yōu)點(diǎn),而且具有大功率晶體管低導通電壓和高導通電流的優(yōu)點(diǎn)。它可以在任何時(shí)間關(guān)斷導通電流,避免了普通晶閘管只能在半波內關(guān)斷的缺點(diǎn)。它是電力電子領(lǐng)域很有前途的大功率半導體器件。


IGBT又稱(chēng)絕緣柵雙極晶體管,是電力半導體器件第三次技術(shù)革命的代表產(chǎn)品。廣泛應用于軌道交通、航天、船舶驅動(dòng)、智能電網(wǎng)、新能源、交流變頻、風(fēng)力發(fā)電、電機驅動(dòng)、汽車(chē)等行業(yè)。它自創(chuàng )立以來(lái)已經(jīng)有大約30年了。它實(shí)現了12英寸的硅片和6500伏的高電平。

igbt



在現代工業(yè)中,采用IGBT器件的電壓源逆變器應用越來(lái)越多。為了保證可靠的運行,應當避免橋臂直通。橋臂直通將產(chǎn)生不必要的額外損耗,甚至引起發(fā)熱失控,結果可能導致器件和整個(gè)逆變器被損壞。

下圖畫(huà)出了IGBT一個(gè)橋臂的典型結構。在正常運行時(shí),兩個(gè)IGBT將依次開(kāi)通和關(guān)斷。如果兩個(gè)器件同時(shí)導通,則電流急劇上升,此時(shí)的電流將僅由直流環(huán)路的雜散電感決定。

圖1 電壓源逆變器的典型結構

當然, 沒(méi)有誰(shuí)故意使兩個(gè)IGBT同時(shí)開(kāi)通,但是由于IGBT并不是理想開(kāi)關(guān)器件,其開(kāi)通時(shí)間和關(guān)斷時(shí)間不是嚴格一致的。為了避免IGBT橋臂直通,通常建議在控制策略中加入所謂的“互鎖延時(shí)時(shí)間”,或者通常叫做“死區時(shí)間”。這意味著(zhù)其中一個(gè)IGBT要首先關(guān)斷,然后在死區時(shí)間結束時(shí)再開(kāi)通另外一個(gè)IGBT,這樣,就能夠避免由開(kāi)通時(shí)間和關(guān)斷時(shí)間不對稱(chēng)造成的直通現象。

1. 死區時(shí)間對逆變器工作的影響

死區時(shí)間一方面可以避免橋臂直通,另一方面也會(huì )帶來(lái)不利影響。以圖2為例,首先假設輸出電流按圖示方向流動(dòng),而IGBT T1由開(kāi)通到關(guān)斷,經(jīng)過(guò)一小段死區時(shí)間后IGBT T2由關(guān)斷到開(kāi)通。 在有效死區時(shí)間內,兩個(gè)開(kāi)關(guān)管都是關(guān)斷的,且續流二極管D2流過(guò)輸出電流。此時(shí)負的直流電壓加在輸出側,此時(shí)電壓極性符合設計的要求??紤]另一種情況,T1由關(guān)斷到開(kāi)通,而T2由開(kāi)通到關(guān)斷,此時(shí),由于電流還是沿著(zhù)同一個(gè)方向,這一電流在死區時(shí)間依然流過(guò),因此輸出電壓還是為負值,此時(shí)電壓極性不是設計希望得到的。結論可以總結如下:在有效死區時(shí)間里,輸出電壓由輸出電流決定,而非控制信號。

圖2 電壓源逆變器的一個(gè)橋臂

如果我們假設輸出電流的方向與圖2所示相反,那么當T1由開(kāi)通到關(guān)斷,而T2由關(guān)斷到開(kāi)通時(shí),也同樣會(huì )出現類(lèi)似上述情況。因此一般情況下,輸出電壓與輸出電流會(huì )隨著(zhù)死區時(shí)間的加入而失真。如果我們選擇過(guò)大的死區時(shí)間,對于感應電機的情況,系統將會(huì )變得不穩定。因此, 仔細計算死區時(shí)間。

本文主要講述如何在實(shí)踐中測量IGBT的延遲時(shí)間,以及如何根據測量值正確地計算控制死區時(shí)間。

2. 計算合適的死區時(shí)間

如上所述,選擇死區時(shí)間時(shí),一方面應讓它滿(mǎn)足避免橋臂直通的要求,另一方面應讓它盡可能地小,以確保電壓源逆變器能正常工作。

2.1 計算死區時(shí)間的方法

我們用下列公式計算控制死區時(shí)間:

其中,
td_off_max:最大關(guān)斷延遲時(shí)間。

td_on_min:最小開(kāi)通延遲時(shí)間。

tpdd_max:驅動(dòng)器最大傳輸延遲時(shí)間。

tpdd_min:驅動(dòng)器最小傳輸延遲時(shí)間。

1.2:安全裕度。

在該公式中,第一項td_off_max-td_on_min為最大關(guān)斷延遲時(shí)間和最小開(kāi)通延遲時(shí)間之差。這一項主要描述IGBT器件結合所用的門(mén)極電阻的特性。由于上升和下降時(shí)間通常比延遲時(shí)間短很多,這里就不考慮它們。另一項tpdd_max-tpdd_min為由驅動(dòng)器決定的傳輸延遲時(shí)間之差(延遲時(shí)間不匹配)。該參數通??稍隍寗?dòng)器制造商提供的驅動(dòng)器數據表中查找到。對于基于光耦合器的驅動(dòng)器,該參數值通常很大。

有時(shí)可以用典型的數據表值乘以來(lái)自現場(chǎng)經(jīng)驗的安全系數來(lái)計算死區時(shí)間,但通常不夠準確。因為IGBT數據表只提供標準工況對應的典型值,我們有必要獲得特殊驅動(dòng)工況對應的最大值。為此,必須進(jìn)行一系列測量,以獲得合適的延遲時(shí)間值,然后計算死區時(shí)間。

2.2 開(kāi)關(guān)及延遲時(shí)間定義
英飛凌按以下方式定義IGBT的開(kāi)關(guān)時(shí)間:

td_on:從Vge上升10%到Ic上升10%的時(shí)間。

tr:從10% Ic到90% Ic的時(shí)間。

td_off:從90% Vge到90% Ic的時(shí)間。

tf:從90% Ic到10% Ic的時(shí)間。

圖3 開(kāi)關(guān)時(shí)間的定義

2.3 IGBT門(mén)極電阻及驅動(dòng)器輸出阻抗的影響

門(mén)極電阻設置會(huì )顯著(zhù)地影響開(kāi)關(guān)延遲時(shí)間。一般來(lái)說(shuō),電阻越大則延遲時(shí)間越長(cháng)。建議在實(shí)際應用的專(zhuān)用門(mén)極電阻條件下測量延遲時(shí)間。典型的開(kāi)關(guān)時(shí)間與門(mén)極電阻的關(guān)系圖如下圖所示:

圖4 開(kāi)關(guān)時(shí)間與Rg在25°C時(shí)的關(guān)系圖
圖5 開(kāi)關(guān)時(shí)間與Rg在125°C時(shí)的關(guān)系圖

所有試驗都是用FP40R12KT3模塊進(jìn)行的,門(mén)極電壓為-15V/+15V,DC link電壓為600V,開(kāi)關(guān)電流為標稱(chēng)電流40A

2.4 其他參數對延遲時(shí)間的影響

除門(mén)極電阻值外,還有其它參數對延遲時(shí)間有顯著(zhù)影響:

? 集電極電流

? 門(mén)極驅動(dòng)供電電壓


2.4.1 開(kāi)通延遲時(shí)間

為了估計這一影響,須進(jìn)行一系列測量。先研究開(kāi)通延遲時(shí)間與電流之間的關(guān)系。結果如下圖所示:

圖6 開(kāi)通延遲時(shí)間與開(kāi)關(guān)電流Ic的關(guān)系圖

所有試驗采用FP40R12KT3模塊,DC link電壓為600V,門(mén)極電阻根據數據表值選擇。

從以上結果中可以看出,集電極電流Ic發(fā)生變化時(shí),開(kāi)通延遲時(shí)間幾乎保持不變。-15V/+15V的門(mén)極電壓下的開(kāi)通延遲時(shí)間,比0V/+15V的門(mén)極電壓條件下要長(cháng)。但該變化很小,且考慮到額外的安全裕量,因此可以忽略不計。

2.4.2 關(guān)斷延遲時(shí)間

最大關(guān)斷延遲時(shí)間是計算死區時(shí)間時(shí)應考慮的最重要因素。因為該值幾乎完全決定最終計算的死區時(shí)間是多長(cháng)。所以我們將詳細地研究該延遲時(shí)間。

要想獲得最大關(guān)斷延遲時(shí)間,必須考慮到以下問(wèn)題:

1. IGBT器件自身產(chǎn)生的開(kāi)通延遲時(shí)間是多少?

2. 如果IGBT的閾值電壓為數據手冊中的最小值,那么最大關(guān)斷延遲時(shí)間是多少?(這個(gè)值反映了模塊間Vth允許的誤差) 
3. 驅動(dòng)器輸出電平對開(kāi)關(guān)時(shí)間的影響?
4. 雙極晶體管輸出電平的驅動(dòng)器有何影響?

考慮以上變量,我們使用FP40R12KT3和視為理想的驅動(dòng)器在實(shí)驗室對關(guān)斷延遲時(shí)間進(jìn)行了測試。測試條件為Vdc=600V,Rg=27?。測試結果如下圖所示:

關(guān)斷延遲時(shí)間與Ic在25°C時(shí)的關(guān)系圖
關(guān)斷延遲時(shí)間與Ic在25°C時(shí)的關(guān)系圖

從測試結果可知,隨著(zhù)開(kāi)關(guān)電流Ic的減小,關(guān)斷延遲時(shí)間顯著(zhù)增加。因此僅僅通過(guò)選定門(mén)極驅動(dòng)電阻來(lái)簡(jiǎn)單地計算死區時(shí)間是不夠精確的。在特定的驅動(dòng)條件下測量延遲時(shí)間,然后再根據測量值來(lái)計算死區時(shí)間是一個(gè)更好且更精確的方法。通常情況下,通過(guò)測量1%常規電流條件下的延遲時(shí)間,足以計算需要的死區時(shí)間。

這里還應考慮一個(gè)問(wèn)題,即,采用0V/+15V的門(mén)極驅動(dòng)電壓時(shí),關(guān)斷延遲時(shí)間會(huì )增加,而且采用0V/+15V的驅動(dòng)電壓時(shí),驅動(dòng)器輸出電平對開(kāi)關(guān)時(shí)間的影響會(huì )更大。這意味著(zhù)使用0V/+15V驅動(dòng)電壓時(shí),需要特別注意對驅動(dòng)器的選擇。另外,集電極電流Ic較小時(shí)導致td_off增加的問(wèn)題也需要考慮。

3. 如何減小死區時(shí)間

為了正確計算控制死區時(shí)間,應當考慮以下驅動(dòng)條件:

? 給IGBT施加的門(mén)極電壓是多少?

? 選擇的門(mén)極電阻值是多少?

? 驅動(dòng)器的輸出電平是什么類(lèi)型?

基于這些條件,可以進(jìn)行延遲時(shí)間的測試,然后通過(guò)測試結果,使用公式(1)計算控制死區時(shí)間。由于死區時(shí)間對逆變器的性能有著(zhù)負面影響,死區時(shí)間需要減小到最小值??梢圆捎孟铝袔追N方法:

·采用足夠大的驅動(dòng)器來(lái)給IGBT門(mén)極提供峰值灌拉電流。

·使用負電壓來(lái)加速關(guān)斷。

·最好選擇快速傳遞信號的驅動(dòng)器,比如使用基于無(wú)磁芯變壓器技術(shù)的驅動(dòng)器會(huì )好于使用傳統光耦技術(shù)的驅動(dòng)器。

·如果選用0V/15V的驅動(dòng)電壓,那么應該考慮使用獨立的Rgon/Ggoff電阻。

從2.3節顯示的測量結果中可以看出,Td_off與門(mén)極電阻值有很強的相關(guān)性。如果Rgoff減小,則td_off及死區時(shí)間都會(huì )減少。英飛凌建議,在使用0V/15V的門(mén)極電壓時(shí),Rgoff值應減小至Rgon值的1/3。一種使用獨立的Rgon和Rgoff的電路如下所示:

門(mén)極電壓為0V/15V時(shí)建議使用的電路

R1的值應滿(mǎn)足以下關(guān)系:


從公式中可以看出,要想讓R1為正值,Rgon必須大于2Rgint。但在一些模塊中,這個(gè)要求并不可能滿(mǎn)足。這種情況下,R1可以完全忽略。


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